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產(chǎn)品名稱:

邏輯分析儀| TLA6403

更新時間:2024-09-07

產(chǎn)品型號:TLA6403

產(chǎn)品報價:

產(chǎn)品特點:邏輯分析儀| TLA6403具有多種靈活的觸發(fā)方式,確保對被觀察的數(shù)據(jù)流準確定位(對軟件而言可以跟蹤系統(tǒng)運行中的任意程序段,對硬件而言可以檢測并顯示系統(tǒng)中存在的毛刺干擾)。

TLA6403邏輯分析儀| TLA6403的詳細資料:

邏輯分析儀| TLA6403邏輯分析儀| TLA6403

邏輯分析儀價格經(jīng)濟,為調(diào)試、驗證和優(yōu)化數(shù)字系統(tǒng)功能提供了所需的性能。TLA6400系列還提供了一套完善的信號完整性調(diào)試工具,可以迅速隔離、識別和檢定難檢問題。它全面支持當前應(yīng)用,您可以獲得理想的工具,幫助您解決當前所有數(shù)字設(shè)計調(diào)試挑戰(zhàn)。

功能

優(yōu)點

40 ps分辨率MagniVu™采集技術(shù),準確觀察系統(tǒng)中的信號關(guān)系。
狀態(tài)采集時鐘速率高達667 MHz,數(shù)據(jù)速率高達1333 Mb/s,對zui快速的同步總線進行采樣。
15英寸顯示器大型顯示器,并可選配觸摸屏,查看更多數(shù)據(jù),高效瀏覽數(shù)據(jù)。
4種型號34條、68條、102條或136條通道可供選擇,高達64 Mb記錄長度,提供靈活的解決方案,適應(yīng)任何預(yù)算。
拖放式觸發(fā)把8種不同觸發(fā)類型的任意一種觸發(fā)類型從表格拖到波形上,TLA將自動設(shè)置觸發(fā)條件。消除錯誤,改善可重復(fù)性,節(jié)約時間。
毛刺觸發(fā)和存儲可以觸發(fā)及突出顯示潛在的信號完整性問題。TLA6400系列不僅能夠觸發(fā)問題,還能夠用紅色突出顯示懷疑的問題,從而能夠簡便確定需要進一步考察哪些信號。
iCapture使用泰克*的iCapture功能,把懷疑的信號傳送到TLA6400系列的模擬輸出上,而不需要使用示波器探頭重復(fù)探測,縮短調(diào)試時間。
iView以時間相關(guān)的方式同時觀察邏輯分析儀數(shù)據(jù)和示波器數(shù)據(jù),在數(shù)字域和模擬域中追蹤信號完整性問題

 YCQR2-Z-45KW    YCQR2-Z-55KW    YCQR2-Z-75KW   YCQR2-Z-90KW    YCQR2-Z-115KW    YCQR2-Z-132KW   YCQR2-Z-160KW    RT31-6/1B   RT31-8/1B 7.5KW    RT41-8/1B 11KW   RT42-8/1B 16KW    RT51-8/2D 22KW   RT52-8/2D 30KW   RT54-132M1-6/1B   RT54-132M2-6/1B    RT54-160M1-6/1B    RT54-160M2-6/1B   RT54-180L-8/2J   RT03-6/1B    RT03-4/1B   RT11-6/1B 2.2KW  RT11-6/1B 2.2KW   RT21-6/1B 5KW    RT22-6/1B 7.5KW    JD1 II A-11    JD1 II A-40    JD1IIA-90   JD1A-11   JD1A-40   JD1A-90   JD1B-40   JD1B-11   JD1B-90   JD1C-11   JD1C-40   JD1C-90   JD1A-40S JD6A-40S    CTK-A40C    CTK-A90C   JZT3   JZT4   ZTK-1   ZLK-1 JDK-1   JDK-2 JDK-3   JDZ-40   DK-1B    DK-1C   DK-2 DK-2A   DK-2B    DK-2C    DK-2E   DK-2D  DK-2F    TC-1A   TC-1B

 

工作原理

邏輯分析儀的工作過程就是數(shù)據(jù)采集、存儲、觸發(fā)、顯示的過程,

邏輯分析儀邏輯分析儀

由于它采用數(shù)字存儲技術(shù),可將數(shù)據(jù)采集工作和顯示工作分開進行,也可同時進行,必要時,對存儲的數(shù)據(jù)可以反復(fù)進行顯示,以利于對問題的分析和研究。

將被測系統(tǒng)接入邏輯分析儀,使用邏輯分析儀的探頭(邏輯分析儀的探頭是將若干個探極集中起來,其觸針細小,以便于探測高密度集成電路)監(jiān)測被測系統(tǒng)的數(shù)據(jù)流,形成并行數(shù)據(jù)送至比較器,輸入信號在比較器中與外部設(shè)定的門限電平進行比較,大于門限電平值的信號在相應(yīng)的線上輸出高電平,反之輸出低電平時對輸入波形進行整形。經(jīng)比較整形后的信號送至采樣器,在控制下進行采樣。被采樣的信號按順序存儲在存儲器中。采樣信息以“先出”的原則組織在存儲器中,得到顯示命令后,按照先后順序逐一讀出信息,按設(shè)定的顯示方式進行被測量的顯示。

 

 

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